Laboratuvar Hakkında

Terahertz Teknolojileri Laboratuvarı’nın temel çalışma alanları; RF, optik ve fotonik devrelerin tasarımı, üretimi ve karakterizasyon ölçümlerinin gerçekleştirilmesidir. Laboratuvar bünyesinde yer alan Terahertz Zaman Alanı Spektroskopisi (THz-TDS) sistemi, Vektör Network Analizörü (VNA), Anten Ölçüm Sistemi ve iki adet üç boyutlu yazıcı, Elektrik-Elektronik Mühendisliği Bölümü içerisinde geniş bir uygulama ve araştırma alanına sahiptir.

Terahertz Zaman Alanı Spektroskopi (THz-TDS) Cihazı

Terahertz Zaman Alanı Spektroskopi (THz-TDS) cihazı, terahertz frekans aralığındaki (yaklaşık 0.1–6 THz) elektromanyetik darbelerin zaman alanındaki elektrik alanını doğrudan ölçerek malzemelerin optik ve elektromanyetik özelliklerini belirleyen bir analiz sistemidir. Birçok malzemenin THz bant aralığında kendine özgü rezonansları bulunduğundan, THz-TDS bilim, endüstri ve savunma alanlarında geniş uygulama alanına sahiptir.

Terahertz Zaman Alanı Spektroskopisi Görüntüleme Uzantısı (Imaging Extension)

Özellikleri
Frekans Aralığı: 0.1- 5 THz
Ölçüm Hızı: 166 iz/s (5 ps) veya 95 iz/s (20 ps) ölçüm hızları sayesinde hızlı görüntüleme.

Uygulamalar:
Tahribatsız muayene ve görüntüleme, paket içi kalite kontrol, 2D/3D haritalama, Güvenlik taraması

Vektör Network Analizör (VNA)

Vektör Ağ Analizörü (VNA), elektriksel sinyallerin frekansa bağlı davranışını karakterize etmek için kullanılan temel bir ölçüm cihazıdır. Saçılma parametrelerini (S-parametreleri) genlik ve faz bileşenleriyle ölçerek bileşenlerin, malzemelerin ve sistemlerin yüksek hassasiyetle analiz edilmesini sağlar.

Özellikleri
1-43.5 GHz arasındaki mikrodalga ve milimetre dalga frekans bantlarını kapsar.
RF ve anten bileşenlerinin yüksek doğrulukla karakterize edilmesi için tasarlanmıştır.
Pasif (Filtreler, kablolar, dalga kılavuzu bileşenleri, antenler) ve aktif devre elemanları (güç yükseltici) üzerinde detaylı testler gerçekleştirebilir.
Hem aktif hem de pasif RF devrelerinin karakteristiklerini ölçebilir.

Uygulamalar
Anten Tasarımı ve Testi: Anten bileşenlerinin çalışma frekanslarının ve performans parametrelerinin doğrulanması.
RF Bileşen Karakterizasyonu: Filtre, amplifikatör ve zayıflatıcı gibi bileşenlerin S-parametre analizi.
Haberleşme Altyapısı: Mikrodalga sistemlerde kullanılan kablo ve bağlantı elemanlarının kayıp ve yansıma testleri.
Savunma ve Havacılık: Radar sistemleri ve yüksek frekanslı haberleşme cihazlarının bileşen seviyesinde analizi.
Akademik Araştırmalar: Mikrodalga teorisi ve elektromanyetik dalga yayılımı üzerine yapılan deneysel çalışmalar.

Anten Ölçüm Sistemi

Anten ölçüm sistemi, antenlerin elektriksel ve elektromanyetik performansını belirlemek amacıyla kullanılan entegre bir test altyapısıdır. Bu sistem; antenin ışıma diyagramı (radiation pattern), kazanç (gain), yönlülük (directivity), bant genişliği, verim (efficiency), polarizasyon ve empedans uyumu (S-parametreleri, özellikle S₁₁) gibi temel parametrelerini ölçmeye olanak sağlar.

Özellikleri
Desteklenen Ölçümler: Radar Kesit Alanı (RCS) ve Ters Yapay Açıklık Radarı (ISAR)
Hareketli Eksenler: Azimuth ve Elevation olmak üzere 2 eksen
Eksen Hareket Aralığı: Azimuth için 0 ° < φ < 360 ° ve Elevation için -90 ° < θ < 90 °
Açısal Çözünürlük: Her iki eksen için 0,1 °
Dönüş Hızı: Her iki eksen için 0.2 – 1 rpm (ölçüm adımına bağlı olarak değişir)
Maksimum Yük Kapasitesi: Azimuth için 15 kg (merkezde eşit dağıtımlı) ve Elevation için 3 kg (taşıma ekseninde merkezi dağıtımlı)

Uygulamalar
Radar ve Savunma Sanayii: Radar Kesit Alanı (RCS) Ölçümleri, Düşük Görünürlük (Stealth) Testleri ve Hedef Tanımlama
Anten Tasarımı ve Karakterizasyonu: Işıma Diyagramı (Radiation Pattern) Analizi, Anten Kazancı ve Verimlilik Ölçümü ve Polarizasyon Testleri
Havacılık ve Uzay (Aerospace): Uydu Haberleşme Sistemleri ve İHA/SİHA Haberleşme Testleri
Görüntüleme Teknolojileri: ISAR (Ters Yapay Açıklık Radarı) Görüntüleme ve Tahribatsız Muayene
Akademik ve Ar-Ge Çalışmaları: Elektromanyetik Teori Araştırmaları ve Prototip Doğrulama
Haberleşme Altyapısı: Baz İstasyonu Antenleri ve Mikrodalga Link Sistemleri

Stereolitografi (SLA) 3D Yazıcı

3B yazıcı (eklemeli imalat, AM), geleneksel yöntemlerle işlenmesi zor veya imkânsız olan karmaşık yapıların hızlı üretimine olanak sağladığı için RF, mikrodalga ve terahertz (THz) mühendisliğinde güçlü bir kolaylaştırıcı teknoloji hâline gelmiştir. Özellikle prototipleme süreçlerinde, hafif sistem tasarımlarında ve yeni nesil yüksek frekanslı bileşenlerin geliştirilmesinde etkisi oldukça belirgindir.

Özellikleri
Baskı Teknolojisi: Low Force Stereolithography (LFS)™
Baskı Hacmi: 33.5 x 20 x 30 cm
XY Çözünürlüğü: 25 µm
Katman Kalınlığı (Z Çözünürlüğü): 25 – 300 µm (reçine tipine bağlı olarak)
Lazer Ünitesi: 2 adet 250 mW Lazer Fosfor Birimi (LPU)
Lazer Leke Çapı: 85 µm
Baskı Hızı: Gelişmiş LFS teknolojisi ile hızlı ve pürüzsüz yüzey üretimi

Uygulamalar
Büyük Ölçekli Prototipleme: Tam boyutlu ürün prototiplerinin ve karmaşık geometrili parçaların tek seferde üretimi.
Endüstriyel Tasarım ve Mühendislik: Yüksek hassasiyet gerektiren geçme parçalar, fonksiyonel test modelleri ve kalıplama öncesi master modeller.
• Antenler ve Anten Sistemleri
• Dalga kılavuzları ve pasif RF Bileşenler
• THz dalga kılavuzları, Fiberler ve fotonik yapılar
• Radom
Hızlı İmalat: Az adetli son kullanıcı parçaları ve özel üretim aparat/fikstürlerin hızlıca hayata geçirilmesi.
Akademik ve Ar-Ge Çalışmaları: Malzeme bilimi araştırmaları ve yeni ürün geliştirme süreçlerinde iterasyon hızlandırma.

Latis yapıları

Dalga kılavuzu

Lensler

Micro-Stereolitografi
Anycubic Photon Mono M5s

Özellikleri
Ekran Tipi: 10.1 inç 12K (11.520 x 5.120 px) monokrom LCD ekran.
Baskı Hacmi: 200 x 218 x 123 mm.
Reçine Kapasitesi: 5.4 L.
Hassasiyet: Yüksek çözünürlüklü ve detaylı baskı imkânı.
Teknoloji: Micro-Stereolitografi.

Uygulamalar
Hassas Mühendislik: Karmaşık geometrilere sahip, yüksek detaylı fonksiyonel parçaların üretimi.